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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

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Instrumentation, Data Analysis and Applications

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ISBN: 9783527349517 Categories: ,

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

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